產品中心
Product Center
熱門搜索：
ME045/ME085/ME150PCB TDR特性阻抗測試儀
3380/3380P/3380D致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統
MSO58/MSO56/MSO54泰克Tektronix MSO54/56/58混合信號示波器
SDS1122E+鼎陽SDS1122E+數字示波器
ME-2SYQ-2型淬火介質冷卻特性測試儀
UT89X/UT89XD優利德UT89X/D系列專業NCV數字式萬用表
UTG932/UTG962優利德UTG932/UTG962函數任意波形發生器
E8900A德力 5G NR 信號分析儀
UT890C/D/C+/D+優利德UT890C/D/C+/D+數字萬用表
DS1202Z-E/DS1102Z-E普源 DS1202Z-E/DS1102Z-E 數字示波器
UTP1306S優利德UTP1306S系列直流穩壓電源
AN1640H/AN1651H艾諾Ainuo AN1640系列智能安規測試儀
UTD7072BG/UTD7102BG優利德UTD7072BG/UTD7102BG數字存儲示波器
EDX6600多功能RoHs鹵素元素測試儀
艾諾 AN87310艾諾Ainuo AN87310 高精度單相功率計
UT582/UT585/UT586/UT582+優利德UT582/UT585/T586漏電保護開關測試儀
致茂Chroma 58620 激光半導體特性測試機 全自動化檢測邊射型激光半導體芯片 高精密及高容量載具設計 自動光纖耦合測試對位設計（Auto-alignment） AOI輔助定位，加速測試時間 共用載具設計可搭配燒機測試
更新時間：2025-07-07
產品型號：58620
瀏覽量：1288
致茂Chroma 7940 晶圓檢測系統 可同時檢測正反兩面晶圓 大可檢測6吋擴膜晶圓（檢測區域達8吋范圍 ） 可因應不同產業的晶粒更換或新增檢測項目 上片后晶圓自動對位機制
更新時間：2025-07-07產品型號：7940瀏覽量：1596
Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統 58635-L光電組件晶圓LIV點測系統 58635-N光電組件近場量測點測系統 58635-F光電組件遠場量測點測系統
更新時間：2025-07-07產品型號：58635-L/N/F瀏覽量：1661
54100/54130/54180致冷芯片溫度控制器 54100致冷芯片溫度控制器 54130-27-12致冷芯片控制器 300W 54180-40-20致冷芯片控制器 800W
更新時間：2025-07-07產品型號：54100/54130/54180瀏覽量：1441
致茂Chroma 58212-C LED電性測試系統 高速高精度 橫向、垂直和倒裝芯片 寬功率測試范圍（高達200 V/2A） 高達8英寸的晶片 Chroma巨型光電探測器
更新時間：2025-07-07產品型號：58212-C瀏覽量：1388
當前位置：
